Delicate features, uneven surfaces, and extreme density make it difficult to manage probe force and ensure reliability.

メモリーウェハーテスターは、半導体製造工程においてメモリーデバイスの電気特性や機能をウェハー状態で評価する検査装置である。高速・多並列テストに対応し、DRAMやNANDフラッシュの品質管理と歩留まり向上を支える。先端プロセスにおける量産体制に不可欠な ...

金属積層造形は、試作技術から生産設備へと役割を変えつつある。その中で求められているのは、造形性能そのものだけでなく、工程全体を安定して制御・自動化できるシステム構成である。スイスの積層造形機メーカーIRPDは、 ベッコフオートメーション ...