メモリ・テスト・システム「T5851-STM16G」にNVMeのシステム・レベル・テスト機能を追加 株式会社アドバンテスト（本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明、以下「当社」）は、このほど、NVMe（不揮発性メモリに最適化した高速通信プロトコル）のシステム ...

2014年8月21日 - K2L GmbH & Co. KG（以下、K2L社）は本日、全ての主要な車載バスに対応し、レストバス シミュレーション（[1]）、デバイス シミュレーション、システム開発中のテスト、ラピッド プロトタイピング等、テストとシミュレーションに関する全ての ...

師走も半ばの2014年12月14日、 東京赤坂のヤフー株式会社の会議室をお借りして、昨年に続き2回目となる 「システムテスト自動化カンファレンス2014 （STAC2014⁠）⁠」が開催されました。今年のテーマは 「広く普及しキャズムを超えてきたシステムテスト自動 ...

2013年12月1日、 オラクル青山センターでシステムテスト自動化カンファレンス （STAC） が開催されました。私自身はテスト自動化研究会（STAR） のコミッターですが、 今回縁あってカンファレンスのレポート役をさせていただくことになりました。 それでは ...

NI、半導体テストシステム（STS）ソフトウェアの強化によりテストプログラムの開発を加速し、操作を効率化 STS ...

2020年10月6日(米国オレゴン州ビーバートン) -- テクトロニクス（所在地：東京都港区、代表取締役： Kent Chon）は本日、KTE 7ソフトウェアおよびその他の拡張機能を搭載した新しいKeithley S530シリーズ・パラメトリック・テスト・システムを発表しました。

図1：vCTS.performanceのマスターラック（4台の拡張ラック例）｜画像提供元：Vector Informatik GmbH シュツットガルト（ドイツ）2025年11月12日 – ベクターは、新しいHIL (Hardware-in-the-Loop) テストシステム「vCTS.performance」を発表しました。vCTS.performanceは、電気自動車（EV ...