Electronic Design

Cascade Microtech, imec develop automatic probe system for 3D chips

Leuven, Belgium. Imec and Cascade Microtech, a FormFactor company, have announced the successful development of a fully automatic system for pre-bond testing of advanced 3D chips. Pre-bond testing is ...
Digi Times

STAr Technologies unveils 3D/2.5D MEMS micro-cantilever WAT probe card

STAr Technologies, a leading manufacturer of semiconductor test probe cards, unveiled the new 3D/2.5D MEMS micro-cantilever probe card for WAT reliability testing. The Virgo-Prima Series probe card is ...
jaxa

小惑星探査機等で使用されるイオンエンジン内のマイクロ波電界 ...

日本電信電話株式会社（東京都千代田区、代表取締役社長：鵜浦 博夫、以下NTT）と、独立行政法人宇宙航空研究開発機構（東京都調布市、理事長：奥村 直樹、以下 JAXA）は、高精度に電界を測定する技術としてNTTが開発中の光ファイバを活用した「電気光学 ...
manilatimes

STAr Virgo Prima Series 3D/2.5D MEMS Probe Card for WAT Test

HSINCHU, March 18, 2025 /PRNewswire/ -- STAr Technologies, a leading probe card manufacturer, has been engaged in probe card technology for 25 years and is at the cutting edge of probe card ...
note

日本マイクロニクス（6871）投資分析レポート

株式会社日本マイクロニクス（Micronics Japan、以下MJC）は、半導体製造工程における半導体検査装置の分野で事業を展開しています 。主力はウェーハ上のチップを電気的に検査する 「プローブカード」 事業であり、2024年12月期連結売上高の約96%を占める中核 ...
CNET

グローバル電子プローブマイクロアナライザー(EPMA)市場の収益 ...

2022年7月21日に、QYResearchは「グローバル電子プローブマイクロアナライザー(EPMA)に関する調査レポート, 2017年-2028年の市場推移と予測、会社別、地域別、製品別、アプリケーション別の情報」の調査資料を発表しました。電子プローブマイクロアナライザー ...