メモリ・テスト・システム「T5851-STM16G」にNVMeのシステム・レベル・テスト機能を追加 株式会社アドバンテスト（本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明、以下「当社」）は、このほど、NVMe（不揮発性メモリに最適化した高速通信プロトコル）のシステム ...

グローバル市場調査レポート出版社であるGlobaI Info Researchがリリースされました「SoCとメモリ半導体テスターの世界市場2025年：メーカー、地域別、タイプ、用途別、2031年までの予測」レポートには、世界市場、主要地域、主要国におけるSoCとメモリ半導体 ...

"We are thrilled to introduce the Magnum 7H, a revolutionary memory tester that sets a new standard for testing HBM devices," said Young Kim, President, Memory Test Division, Teradyne. "This ...

TOKYO, March 31, 2020 (GLOBE NEWSWIRE) -- Leading semiconductor test equipment supplier Advantest Corporation (TSE: 6857) has introduced its new versatile, high-throughput H5620 memory tester that ...

QYResearchが発表した新たな市場調査レポート「SoCとメモリ半導体テスター―グローバル市場シェアとランキング、全体の売上と需要予測、2026～2032」によると、世界のSoCとメモリ半導体テスター市場規模は2024年の約5932百万米ドルから2025年の6332百万米ドルへと ...

Palo Alto, Calif.—Automatic test equipment maker Agilent Technologies now has a new final-test memory tester targeting MCP s (multi-chip packages) and discrete flash. Dubbed the Versatest Series Model ...

SANTA CLARA, Calif. — Advantest Corp. today announced it has begun selling new DRAM and flash memory tester that has the ability to simultaneously test up to 128 devices at a time with speeds of 143 ...

NORTH READING, Mass.--(BUSINESS WIRE)-- Teradyne, Inc. (TER) (NASDAQ: TER), a leading provider of automated test equipment and advanced robotics, is proud to announce the launch of the Magnum 7H, a ...

アドバンテスト社製メモリテスターを用いて、磁気ランダムアクセスメモリ(STT-MRAM)の歩留まり率の向上と高性能化を実証 ...