計測機器や検査機器などを利用して半導体ICを測定し、評価する作業の多くは、エンジニアにとって難しいことではありません。難しい、いや厳密に表現すると厄介なのはむしろ、その前の段階にあります。評価仕様を満足する計測機器と検査機器を用意し ...
連載シリーズ「ゼロからはじめる「Cloud Testing Service」」の第2回「ソフトウェアが実現する多種多様な計測・テストソリューション」では、計測・テストソリューション「Cloud Testing Service(クラウドテスティングサービス)」のユーザー登録をオンラインで実行 ...
We've been looking at the economics of AI-native cloud testing completely wrong. The discourse fixates on "How much does AI testing cost?" Instead, we should be asking, "What competitive advantage are ...
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