テスト・スピード従来製品比2倍以上、DRAM、NANDフラッシュメモリ両方の高速テストに対応 株式会社アドバンテスト（本社:東京都千代田区 代表取締役社長:吉田 芳明）は、メモリ・テスト・システムの新製品「T5835」を発表しました。従来製品「T5833」の後継 ...

設計評価工程向けメモリ・テスト・システム「H5620ES」を発表 5G向けメモリ・デバイスのバーンイン・テストとコア・テストを統合 株式会社アドバンテスト（本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明）は、メモリ・ハイスピード・バーンイン・テスタの設計評価 ...